专利名称：一种晶体探测器专利类型：实用新型专利
发明人：林振华,伯努瓦·瓦特傅依,卢国能,张庆泽申请号：CN201721715007.7申请日：20171211公开号：CN207623541U公开日：20180717
摘要：本实用新型提供一种晶体探测器，包括晶体块、反射包裹膜、SiPM传感器、光电二极管、探测通道选择开关和中央控制器，所述晶体块为圆柱形结构，所述SiPM传感器和所述光电二极管安装在所述晶体块的外表面，所述反射包裹膜分别设置在除晶体块与SiPM传感器、光电二极管连接面外的其他外表面，此设置可加强探测器探测能量分辨率，所述探测通道选择开关与所述SiPM传感器、光电二极管均为电性连接，所述中央控制器的输入端与所述探测通道选择开关电性连接，所述中央控制器的输出端与所述SiPM传感器和光电二极管均为电性连接。设置的SiPM传感器和光电二极管保证晶体探测器探测范围，能够实现对高放射性活度与低放射性活度的晶体探测。
申请人：天津华放科技有限责任公司
地址：300000 天津市南开区宜宾道22号南开西区研究院集群产业园A栋2234号
国籍：CN
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