18年6月考试《现代材料测试技术》复习题

一、选择题：

1、当X射线将某物质原子的K层电子打出后,L层电子回迁K层,多余能量将

另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()。

A.特征X射线 B. 背反射电子 C.俄歇电子 2、仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ ）。

A.背散射电子； B. 二次电子； C. 吸收电子； D.透射电子。

3、让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做（ ）。 A.明场成像 B.暗场成像 C.中心暗场成像

4、由电磁透镜磁场中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的像差，称为（ ）。

A.球差 B.像散 C.色差

5、具有fcc结构晶体的（100）、（110）、（111）、（200）、（210）、（311）对应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上，而晶面（ ）将出现反射。

A.（311） B.（200） C.（210） D. A和B。

6、下列晶面属于[11]晶带的是（ ）。

A.（

1）（

1）、B.（211）（101）、C.（01）（13）

7、有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（ ）衍射线。

A. 三条； B .四条； C. 五条；D. 六条。

二、填空题：

1、布拉格公式λ=2dsinθ中λ表示（ ），d表示（ ），θ表示（ ）。

2、利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是（ ），参考（ ）。 3、等厚条纹是衍射强度随试样( )的变化而发生周期性变化引起的，图像特征为（ ）的条纹。

4、当X射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要条件是（ ）,而产生衍射的充要条件是（ ） 。

5、从X射线管射出的X射线谱通常包括（ ）和（ ）。 6、电子探针X射线显微分析中常用X射线谱仪有（ ）和（ ）。 7、俄歇电子能谱仪最适合做材料的（ ）和（ ）的成分分析。 8、电子探针定性分析时是通过测定（ ）确定元素，定量分析时通过测定（ ）确定含量。

三、判断题：（A.是 B.否）

1、当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。（ ）

2、面心点阵的系统消光规律是 H+k+L 为偶数时出现反射，而 H+K+L 为奇数不出现反射。（ ）

3、扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。（ ） 4、随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。( )

5、当X射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要和充分条件是必须满足布拉格方程。( )

四、问答题

1、某立方晶体的（111）面间距为0.1506nm，并与入射X射线呈26°的角度，求产生一级衍射时的X射线波长。

解、产生一级衍射的波长为：λ=2dsinθ=2×0.1506×sin26°=0.132nm

2、用CuKαX射线得到了硅（fcc）的衍射花样, 测量各衍射线条数据如下，  CuKα=1.541Å。试标出各衍射线的干涉指数。计算各衍射线的d 值。（15分）

序号： 1 2 3 4 5 ： 14.2 23.65 28.06 34.59 38.19

解；衍射指数的平方和分别为3 、8 、11、16 、19，干涉指数为 111、 220 、 311、 400、331，d（ Å） 值分别为 3.14nm、1.92nm、1.64nm、1.35nm 、1.25nm

Ffjexpi2HxjKyjLzjj1J3、某面心立方结构物资的电子衍射花样如 图示，已标出部分指数，试标出其余指数，并

求

出晶带轴指数r和晶格常数a 。（15分） 已知： R1= 6.5mm R2=16.4mm Lλ=3.98mm.nm φ =82.3°

解：指数如图所示。 晶带轴为 晶胞常数为

r111242123111420331adh2k2l2242111d1113.98/6.50.61331

a0.6131.05nm

参考答案

一、选择题：

1、C；2、B；3、A ；4、A ；5、D；6、B； 7、C

二、填空题：

1、入射线波长，衍射（干涉）面的面间距，掠射角； 2、d值，强度； 3、厚度，明暗相间；

4、满足布拉格方程；同时满足结构因数不等于零； 5、连续X射线，特征X射线； 6、波谱仪，能谱仪； 7、表面，轻元素；

8、特征X射线波长或能量， X射线的强度；

三、判断题：

1、A； 2、B；3、B； 4、A；5、B