光电工程 第35卷第2期 性固定噪声,z ( )为读出电路的输出。 3算法原理简述 3.1算法框图 图2为非均匀校正算法结构框图,整个流程分为两部分。第一部分由读出电路非均匀校正构成,作用 是去除输出图像中的读出电路噪声,并且为下部分的探测器单元噪声校正提供理想值估计。第二部分由探 测器单元理想值估计模块和探测器单元噪声非均匀校正模块构成。利用第一部分计算出的固定噪声参数完 成后续输入噪声图像序列的校正,并进行中值滤波,处理后的图像作为理想值参数再依据递归最小二乘加 权原理,通过探测器单元非均匀校正,得到最终的校正图像序列。 iput ofthe image sequences、— ——Nonuniformity correction of readout ampliifer noise j卜 Nonuniformity correction of detector pixel noise Corrected image seque“ces~ 图2非均匀校正算法结构框图 Fig.2 Framework of the nonuniformity correction algorithm 3.2读出电路噪声非均匀性校正 利用已知的红外成像系统的读出电路结构图,可以将同一个通道内的像素划分为一组,从而确定出同 一个通道内传输的像素集。由于经过的通道相同,故这些像素集具有十分接近的非均匀噪声值。而这些通 个像素集而言更好的满足了恒定统计假设,故利用改进的统计算法对每一个像素子集进行局部校正,以 道内像素点在焦平面上又是循环分布的,所以可以认为通道之间输入场景的均值和方差是相同的。对于每 一滤除通道内的非均匀噪声,为后续的探测器单元噪声校正提供了可信度更高的预校正数据。读出电路噪声 非均匀性校正的原理框图如图3所示。 Noise parameters ofthe last lame f图3读出电路非均匀校正算法结构框图 Fig.3 Framework ofthe readout amplifier nonuniformity correction algorithm 通过迭代的统计计算分别得到噪声图像统计估计 ,,和 ,,以及真实图像统计估计 和 , 再利用 式(7)的非均匀校正式得到此次校正值,并作为下一步校正的输入值。同时生成的噪声参数 ,和 ,在下一 帧图像的真实图像统计估计时又被再次利用。 (J)=[( ( )一 )/ ,,,,】 + , , (7) 3.3探测器单元噪声非均匀性校正 步骤一:探测器单元校正理想值估计 为了进行探测器单元噪声非均匀性校正,首先要得到真实辐照度的预估计值。首先,根据式(2)的非均 匀校正思想,使用上一帧探测器单元噪声计算值,进一步去除读出电路校正图中的图像噪声,然后使用3×3 的中值滤波器来进行预估值处理。中值滤波进一步减少了读出电路噪声校正后图像的空间噪声,但同时也 降低了图像的空间分辨率。降低的空间分辨率可以通过下一步骤中的探测器单元的递归加权最小二乘非均 匀校正算法来复原。 步骤二:递归加权最小二乘校正算法 将式(1)改写成矢量方程: Y =H (8) 其中:Hk=[xk 1】, =[a a 】 。设已经处理的图像帧数为k帧,为叙述方便,引入加权矩阵 , 维普资讯 http://www.cqvip.com
2008年2月 采用以下记号: 全勇等:基于读出电路结构的红外焦平面图像非均匀校正算法 69 l l y( )= 2 ● ,H( )= 2 : : ● , ( )= Yk 则矢量方程为 Y(k):H(k)O (9) (10) (II) p)(12) 由递归加权最tJ ̄z.乘估计原理,引入衰减因子 其中增益矩阵 的表达式为 1,得第k+1次的固定噪声参数递推公式: 0(k+1)=0(k)+K“l[J, +l—日“1 ( )】 K川= +lH +l +,的递推公式为 ( 一 = r 九 ^+H 1r.,H 其中 =[H ( ) ( )H( )】~。 步骤三:噪声图像的非均匀校正 设由第k步递推得到的固定噪声参数为0=[ak. . 】 ,联立式(2),得到图像 的估计值。 4算法仿真结果分析 4.1仿真数据的产生 本文利用已有的8 ̄12 ̄tm红外序列图像,通过加 入图l(a)的模拟固定图案噪声参数,形成测试仿真数 表1读出电路模拟噪声参数 Table 1 Noise parameters ofsimulated readout ampliifer 据。图像尺寸250像素x160像素,序列中共有250帧。 读出电路噪声模拟参数如表1所示。传感器噪声参数 中,加性固定噪声为均值0、标准方差25的高斯白噪 声,乘性噪声为均值1,标准差O.O2的高斯白噪声。 4.2仿真数据的校正结果 通过对仿真红外图像进行非均匀校正,得到如图4所示的校正图像。与时域高通滤波(THP)方法、神 经网络校正方法(NN)、迭代最小二乘算法(ILS)相比较,基于读出电路结构的迭代非均匀校正算法(IRA)具 有较好的校正效果。本文的方法不仅较大的保留了图像细节,还减弱了校正图像中的黑影,具有较好的清 晰度。为叙述方便,以下英文叙述时都使用其英文缩写形式。 曩■■一■● (a) (b) (c) (d) (e) (t) 图4第8O帧图像的校正结果 (a)原图像;(b)噪声图像;(c)时域高通滤波校正图像;(d)神经网络校正图像; (e)迭代最小二乘算法校正图像;(f)基于读出电路算法校正图像 Fig.4 Correction results of lame f8O with diferent algorithm (a)Originalflame;(b)Noiseframe;(c)CorrectedimageswithTHP;(d)NN;(e)ILS;(DIRA 4.3算法的性能分析 由于ILS算法在收敛速度、计算复杂度和数据存储量方面比其它方法已经有很大改进 ,所以这里只 维普资讯 http://www.cqvip.com
70 光电工程 第35卷第2期 对ILS算法和本文方法在上述方面进行比较。 4.3.1收敛速度比较 为了比较图像处理效果,图5 给出了分别采用两种算法处理后的 图像光滑度P和均方误差根RMSE (Root Mean Square Error)参量随帧 数/,/变化的曲线,两个参量的定义 参见文献[4]。从图中可以看出基于 /frame /frame 读出电路结构的非均匀校正方法比 (a)Roughness (b)RMSE ILS算法约提前收敛20帧,因此具 图5 两种方法不同图像帧对应的光滑度和RMSE 有更快的收敛速度。 Fig.5 Curve ofRMSE and roughness corresponding to the diferent algorithm 4.3.2时间和空间复杂度比较 ILS算法分为图像配准和运动补偿平均、噪声参量迭代估计和噪声图像校正两部分,而基于读出电路 结构的焦平面非均匀校正算法分为读出电路噪声校正和传感器噪声校正两部分。两种方法在第二部分的计 算量相当,但第一部分的计算量后者却远远小于前者。对两种方法第一部分计算量的具体分析如下。图像 配准和运动补偿平均模块需要的乘法次数约为10m +m (1og2 ) +2xy,加法次数约为4m (1og2 ) +4xy, 而读出电路噪声校正需要的乘法次数约为13xy/2,加法次数约为9xy/2。其中m为背景配准窗口大小,x和 Y分别为输入图像的水平和垂直大小,m一般选取值为x或Y的一半。可以看出读出电路噪声校正比图像 配准的计算量要小两个图像大小量级。这里选择x为250,Y为160,m为100,它们的单位都是pixel,则 每帧图像校正的计算量减少约200万次。可以看出,基于读出电路的非均匀校正方法同基于图像配准的校 正方法相比,大大降低了计算复杂度。 再考虑两种算法的数据存储量,由于两种算法已经是迭代处理算法,故数据存储量比批处理算法已经 大为减少。ILS算法所需的存储量空间大约为l2帧图像,而基于读出电路结构的非均匀校正方法数据存储 量约为l4帧图像。这对于硬件电路来说都是较易实现的。 5结论 本文给出了基于读出电路结构的红外焦平面非均匀校正算法,解决了一般焦平面阵列校正算法中普遍 存在的计算复杂度高、实时实现困难等问题,使得该算法更适合于工程化应用。该算法是两种校正算法的 综合,如果要进一步减少计算的复杂度,可以单独使用其中的任意一种方法,只是校正精度略有下降。但 是,算法是基于读出电路结构的,它要求像素分组要尽量满足成像系统的结构信息,所以将这种理论与硬 件结构紧密联系,将是下一步研究的重点和方向。 参考文献: 、 [1】Scribner D A,Sarkay K A,Caldfield J T,et a1.Nonuniformity correction for staring focal plane arrays using scene-based techniques[J].SPIE,1990,1308:224—233. [21 Scribner D A,Sarkay K A,KEuer M K,et a1.Adaptive nonuniformity correction ofr IR focal plane arrays using neural networks [J].SPIE,1991,1541:100—109. [3】Harris J G,Chiang Y M.Nonuniformity Correction Using Constant Average Statistics Constraint:Analogue and Digital Implementations[J],SPIE,1997,3061:895—905. [4】Torres S N,Hayat M M.Kalman iflteirng ofr adaptive nonuniformity correction in infrared focal plane arryas[J】'Applied Optics,2000,4030:196—205, , . 【5】Hardie R C,Barnard K J,Bognar J G,et a1.High-resolution image reconstruction rfom a sequence ofrotated nad trnaslated frames nad its application to an inrfared imaging system[J].Opt.Eng,1998,37(1):247-260, (下转第127页) 维普资讯 http://www.cqvip.com 2008年2月 李田泽等:改进型PSD非线性误差分析及其应用研究 127 层建筑玻璃墙面施工;倾斜基准面可用于道路、铁路等倾斜基准面施工等,该系统还可以应用于各种类型 的高层及高耸建筑物的测量以及对三维不规则外形物体参数的提取等,有广泛的应用空间。 参考文献: [1】 莫长涛,陈长征,张黎丽,等.光电位置敏感器件背景光补偿的研究[J】.中国激光,2004,31(4):427-431. MO Chang-tao,CHEN Chang—zheng,ZHANG Li—li,et a1.Study on background light compensation ofphoto—electric position sensitive detector[J].Chinese Journal of Lasers,2004,31(4):427—43 1. 【2】 党丽萍,刘君华,唐树刚、双四象限光电探测器在线测试虚拟仪器【J1.光电工程,2005,32(5):50-52. DANG Li—ping,LIU Jun—hua,TANG Shu-gang.On—lne inspectiion virtual instrument with double four quadrant photoelectric detector[J】.Opto-Eiectronic Engineering,2005,32(5):50-52. [3】 林玉池,洪昕,赵美拳微机械自跟踪双坐标光电准直仪的研究[J】'光电工程,2002,29(4):43-45. LIN Yu—chi,HONG Xin,ZHAO Mei-rong.Study on a two-dimension photoelectric actcolloimator、】lri也micro—mechanical automatic tracking unit[J】.Opto—Electronic Engineering,2002,29(4):43-45. [4】 汪晓东,叶美盈.二维光电位置敏感器件的非线性修正[J】.光学技术,2002,28(2):174-178. WANG Xiao—dong,YE Mei—ying.Non-linear correction of tow-dimension photoelectric position sensitive detector[J].Optical Technique,2002,28(2):174-178. [5】LIU Yao—h0ng,TENG Lin,LI Da-qi,et a1.Application ofpower spectral density to specify optical super-smooth surfaces[J】. SPIE,2005,6150:615031. [6】 贺安之,阎大鹏.现代传感器原理及应用[M】.北京:宇航出版社,1995. HE An—zhi,YAN Da-peng.Modern Sensor Principle and Application[M】.Beijing:Space Navigation Press,1995. [7】 吕爱民,袁红星,贺安之,等.光斑模式对PSD定位的研究[J】'激光技术,1998,22(5):294-297. LO Ai—min,YUAN Hong—xing,HE n-Azhi,et a1.The research in the influence ofbeam spot on he tprecision ofPSD[J】’Laser Technology,1998,22(5):294—297. [8] 孙先逵,秦岚.一种新型非接触位姿检测系统研究[J】'光电工程,2007,34(1):50—54. SUN Xin-akui,QIN Lan.New system of non-contact pose measurement[J】.Opto-Eieetronic Engineering,2007,34(1): 50-54 — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — — 。 — — — — — — — — — — a — 。 — 。 — 。 (上接第70页) T-.基于递推最小二乘的红外焦平面非均匀校正算法[J】'光子学报,2006,35(2):261—264. [6】 徐田华,赵亦_XU Tin-hua,ZHAO Yi—gora .Iterative Least Square—Based Algorithm for Nonuniformity Correction of Inflated Focal Plane Arrays[J].Acta Photonica Sinica,2006,35(2):261—264. J】'红外与激光工程,1997,26(3):11—13. [7】 周建勋,王利平,刘 滨.红外图像非均匀性原因分析[ZHOU Jin—axan,WANG Li—ping,LIU Bin.Analysis ofthe cause orf he tnonuniorfmity ofinfrred aimage[J】'Infrared and Laser Engineering,1997,26(3):11—13. [8】 Narayanan B,Hardie R C,Muse R A.Scene—based nonuniorfm@correction technique that exploits knowledge of he tfocal-plane array readout rcahitecture[J】'Applied Optics,2005,44(17):3482—3491.
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