基于March C＋改进算法的MBIST设计

申志飞;梅春雷;易茂祥;闫涛;阳玉才

【期刊名称】《电子科技》 【年(卷),期】2011(024)010

【摘 要】针对SRAM内建自测试（MBIST）,介绍几种常用的算法,其中详细介绍March C＋算法,在深入理解March C＋算法的基础上对其提出改进,以此提高MBIST的故障覆盖率。并且利用自顶向下设计方法,Verilog HDl设计语言、设计工具等设计MBIST电路及仿真验证,证明了本设计的正确性和可行性。%Several common algorithms for BIST of SRAM are introduced,especially the algorithm based on March C＋.An improvement is proposed to enhance the fault coverage of MBIST.The most popular design method,top-down design,and the most commonly used IC design language,Verilog HDL,are adopted to design the MBIST circuit.Force-release sentence supported by Verilog HDL is used to conduct simulation verification. 【总页数】4页(P67-70)

【作 者】申志飞;梅春雷;易茂祥;闫涛;阳玉才

【作者单位】合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥230009;合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥230009;合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥230009;合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥230009;合肥工业大学电子科学与应用物理学院,安徽合肥230009 【正文语种】中 文

【中图分类】TN402 【相关文献】

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