专利名称：磁共振弥散张量去噪方法和系统专利类型：发明专利
发明人：彭玺,梁栋,刘新,郑海荣申请号：CN201410814491.3申请日：20141223公开号：CN104545916A公开日：20150429
摘要：本发明提供了一种磁共振弥散张量去噪方法和系统，其方法基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质，利用弥散张量特征值的稀疏性，采用最大后验概率估计的方法直接由K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵。本发明可以避免图像去噪的误差对弥散张量估计的影响，可以更有效地抑制弥散张量中的噪声，提高弥散张量的估计精度。
申请人：中国科学院深圳先进技术研究院
地址：518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：吴平
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