专利名称：一种基于多目标的产品电磁辐射性能评价方法专利类型：发明专利
发明人：尚兆霞,潘勇,李新天,刘旋,王灵玺,徐珊,郑光军,韩冰申请号：CN201810549461.2申请日：20180531公开号：CN108693411A公开日：20181023
摘要：本发明涉及一种电子电器产品风险分析方法，特别公开了一种基于多目标的产品电磁辐射性能评价方法。该基于多目标的产品电磁辐射性能评价方法，其特征为：选定样本后，对样品及目标进行编号；提取样本EMC检测结果有用信息，包含频率、限值、准峰值；根据公式计算样品的EMC参考值S及参考值T；根据实际情况，分别对参考值S和T进行赋值，计算总参考值E；对各样品的参考值E计算结果进行比较，进行风险值排序，同时建立风险值数据库；输入目标的参考值E、S和T，得到风险柱状图。本发明步骤简单，操作方便，结果直观，通过计算出风险值，量化产品风险，加强对产品电磁辐射性能的评价。
申请人：山东省产品质量检验研究院
地址：250200 山东省济南市章丘世纪大道12688号
国籍：CN
代理机构：济南泉城专利商标事务所
代理人：张贵宾
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