一种利用太赫兹时域光谱测定材料孔隙结构的方法

（12）发明专利说明书

（21）申请号 CN201410204757.2 （22）申请日 2014.05.15 （71）申请人 中国石油大学(北京)

地址 102249 北京市昌平区府学路18号

（10）申请公布号 CN103969167B

（43）申请公布日 2016.03.23

（72）发明人 宝日玛;董晨;赵昆;孟倩;李羿璋;孙世宁;王伟 （74）专利代理机构 北京三友知识产权代理有限公司

代理人 汤在彦

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

一种利用太赫兹时域光谱测定材料孔隙结构的方法

（57）摘要

本发明提供了一种利用太赫兹时域光

谱测定材料孔隙结构的方法，包括：步骤1，选择样品材料，并制备两组标准样品；步骤2，利用太赫兹时域光谱装置分别对两组标准样品进行检测，生成两组标准样品的太赫兹时域光谱信号；步骤3，根据太赫兹时域光谱信号，分别生成第一组标准样品的太赫兹波振幅与颗粒大小的对应关系，以及第二组标准样品的太赫兹波振幅与孔隙率的对应关系；步骤4，根据两组对应关系，建立标准太赫兹时域光谱数据库；步骤5，测得

待测样品的太赫兹时域光谱信号，将待测样品的太赫兹时域光谱信号与标准太赫兹时域光谱数据库进行比对，分析得到待测样品的孔隙率或颗粒大小。本发明操作简单、检测快速，数据处理过程简单，重复性好。 法律状态

法律状态公告日2014-08-06 2014-09-03 2016-03-23

法律状态信息

公开

实质审查的生效 授权

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权利要求说明书

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说明书

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