X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别?
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x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器，而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。
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X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。
X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。
两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
