【失效分析七】扫描电镜应用之:SEM & EDS——元器件的失效分析
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发布时间：2024-10-22 12:09
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时间：2024-11-04 20:14
扫描电镜（SEM）与能量散射光谱仪（EDS）是元器件失效分析的强大工具，它们联手揭示微观世界的奥秘，助力科技探索。以下是它们在失效分析中的应用实例和原理解析。
在科技探索的征途上，扫描电镜（SEM）与能量散射光谱仪（EDS）如同一双锐眼，揭示元器件的微观世界。SEM通过聚焦电子束观察样品表面形貌，其优点包括高分辨率和广泛的放大倍率范围。而EDS作为SEM的伙伴，通过分析X射线能量，精确测定材料的元素种类和含量，尤其在SEM成像时能提供成分信息。
SEM的工作原理基于电子束与样品的互动，产生形貌图像，而EDS则通过X射线能谱分析元素特性。当遇到如MOSFET、按键、Varistor和连接器等元器件的失效分析时，SEM-EDS组合能深入观察和解析样品的三维结构、组成和可能的失效原因，如pin脚的镀层问题。
Foxconn电子零组件实验室凭借丰富的经验和CNAS认可，为客户提供专业的SEM-EDS失效分析服务。若需了解更多，欢迎通过400-0812-988热线或留言咨询。同时，为确保及时获取更新内容，请关注“推荐阅读、分享、收藏”等操作，以保持与我们的紧密联系。
最后，扫描电镜与能量散射光谱的联合使用，助力我们更全面地理解元器件的失效，为科技进步贡献力量。
